激光干涉仪

型号：HY-IM200

分类：光学测量仪器

HY-IM200激光干涉仪采用双频激光光源，配合高精度光学镜组，可实现纳米级位移测量。用于精密机床校准、坐标测量机检定、精密位移传感器标定等领域。

技术参数

测量范围	0-40m
分辨率	1nm
精度	±0.5ppm
激光稳频精度	±0.05ppm

产品特点

• 双频激光稳频技术
• 1nm分辨率
• 环境补偿系统
• 配套专业分析软件